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Relationships of electrical properties and melting threshold in laser-annealed ion-implanted silicon

  • K. L. Wang
  • , Y. S. Liu
  • , C. Burman

研究成果: Article › 同行評審

6   連結會在新分頁中打開 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Relationships of electrical properties and melting threshold in laser-annealed ion-implanted silicon」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Engineering

Material Science

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