摘要
本發明係有關於一種具有晶片式電泳裝置之樣品分析系統,特別是將前述晶片式電泳連接動力驅動之流動式自動進樣裝置將樣品導入晶片式電泳裝置中,前述晶片係可透過衍生化方法將晶片上之進樣槽進行表面修飾(surface modification)以避免注入之樣品吸附於進樣槽之槽壁,進而提高樣品進樣速率及減少樣品之交叉污染(cross contamination),本發明利用晶片上持續的流體分流及電壓調控的方式配合偵測單元、訊號擷取單元及訊號處理單元,使樣品能進行即時、快速的連續式分析且不受其他時間樣品的干擾。
貢獻的翻譯標題 | 具有晶片式電泳裝置之樣品分析系統 |
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原文 | English |
專利號 | 159209 |
出版狀態 | Published - 1800 |