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Structural characterization of La
2-x
M
x
CuO
4
(M = Sr,Ba) samples by synchrotron x-ray and neutron powder diffraction techniques
D. E. Cox, S. C. Moss, C. W. Chu
副校長室
研究成果
:
Article
›
同行評審
10
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Structural characterization of La
2-x
M
x
CuO
4
(M = Sr,Ba) samples by synchrotron x-ray and neutron powder diffraction techniques」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Diffraction
24%
Neutron powder diffraction
100%
Neutrons
24%
Powder Diffraction
40%
Rietveld refinement
39%
Synchrotrons
59%
Temperature
8%
X rays
40%
Chemical Compounds
Ceramic
34%
Diffraction Method
56%
Neutron
45%
Neutron Diffraction
46%
Rietveld Refinement
44%
Tetragonal Space Group
39%
Physics & Astronomy
ceramics
9%
characterization
24%
diffraction
23%
high resolution
9%
inhomogeneity
12%
neutrons
29%
synchrotrons
38%
temperature
4%
x ray diffraction
12%
x rays
20%