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Structure-based specification-constrained test frequency generation for linear analog circuits
Soon Jyh Chang
, Chung Len Lee, Jwu E. Chen
電機工程學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Structure-based specification-constrained test frequency generation for linear analog circuits」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Mathematics
Specification
54%
Signature
28%
Test Generation
27%
Testing
21%
Fabrication
21%
Fault
17%
Tolerance
16%
Monotonic
15%
Statistical Model
14%
Fluctuations
14%
Filter
13%
Continuous Time
13%
Methodology
11%
Relationships
9%
Engineering & Materials Science
Analog circuits
68%
Specifications
39%
Networks (circuits)
33%
Testing
15%
Social Sciences
stimulus
24%
confidence level
19%
fluctuation
16%
tolerance
13%
methodology
7%
time
5%