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Study of electric field enhanced emission of deep levels using a new emission spectroscopic technique
T. T. Nguyen, K. L. Wang, G. P. Li
電機資訊學院
研究成果
:
Article
›
同行評審
8
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Study of electric field enhanced emission of deep levels using a new emission spectroscopic technique」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Physics & Astronomy
electric fields
100%
pulses
84%
capacitance
54%
n-type semiconductors
43%
electrons
28%
causes
20%
augmentation
20%
defects
18%
spectroscopy
17%