Sub-40nm V-groove MOSFETs

J. Appenzeller, R. Martel, Ph Avouris, J. Knoch, Y. Lu, K. L. Wang, J. Scholvin, J. A. Del Alamo, P. Rice, P. Solomon

研究成果: Paper同行評審

指紋

深入研究「Sub-40nm V-groove MOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science