Sub-centimeter micromachined electron microscope

A. V. Crewe, A. D. Feinerman, D. A. Crewe, Dung-Ching Perng, S. E. Shoaf

研究成果: Article同行評審

24 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Sub-centimeter micromachined electron microscope」主題。共同形成了獨特的指紋。

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Engineering & Materials Science

Chemical Compounds