SWiTEST: A Switch Level Test Generation System for CMOS Combinational Circuits

Kuen Jong Lee, Charles A. Njinda, Melvin A. Breuer

研究成果: Article同行評審

9 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「SWiTEST: A Switch Level Test Generation System for CMOS Combinational Circuits」主題。共同形成了獨特的指紋。

Engineering & Materials Science