| 原文 | English |
|---|---|
| 主出版物標題 | 3rd VLSI Test Technology Workshop (VTTW) |
| 出版地 | Nantou |
| 出版狀態 | Published - 2009 7月 |
Testing for 3D FPGA interconnect open and short faults
Cheng-Wen Wu, Y.-L. Peng
研究成果: Conference contribution
Cheng-Wen Wu, Y.-L. Peng
研究成果: Conference contribution
| 原文 | English |
|---|---|
| 主出版物標題 | 3rd VLSI Test Technology Workshop (VTTW) |
| 出版地 | Nantou |
| 出版狀態 | Published - 2009 7月 |