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概要
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活動
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The Blech effect revisited - an in-situ study
Shih Kang Lin
,
Yu Chen Liu
, Kuan Hsueh Lin
材料科學及工程學系
跨維綠能材料研究中心
研究成果
:
Conference contribution
總覽
指紋
指紋
深入研究「The Blech effect revisited - an in-situ study」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Stress relaxation
89%
Electrons
75%
Strip metal
54%
Synchrotron radiation
53%
Electromigration
48%
Grain growth
46%
Electric currents
43%
X ray diffraction
36%
Current density
36%
Aluminum
28%
Scanning
28%
Defects
25%
Recovery
25%
Microstructure
25%
Chemical Compounds
Stress Relaxation
100%
Grain Growth
45%
Process Dynamics
44%
Electron Particle
40%
Current Density
27%
Microstructure
25%
Length
22%
X-Ray Diffraction
18%
Metal
16%
Time
13%