X-ray absorption of Si-C-N thin films: A comparison between crystalline and amorphous phases

Y. K. Chang, H. H. Hsieh, W. F. Pong, M. H. Tsai, T. E. Dann, F. Z. Chien, P. K. Tseng, L. C. Chen, S. L. Wei, K. H. Chen, J. J. Wu, Y. F. Chen

研究成果: Article同行評審

22 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「X-ray absorption of Si-C-N thin films: A comparison between crystalline and amorphous phases」主題。共同形成了獨特的指紋。

Physics & Astronomy