Autonomous Testing for 3D-ICs with IEEE Std 1687

論文翻譯標題: 具1687標準之三維積體電路自動化測試
  • 葉 金村

學生論文: Master's Thesis

摘要

獎項日期2016 十一月 9
原文English
監督員Kuen-Jong Lee (Supervisor)

引用此

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